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你能读我吗? 临江仙 天涯孤旅只一人 四季日夜连晨昏 秋风如霜雨似针 长夜独行久 庭院几许深 忍看邻家天伦暖 遥闻欢颜笑语声 生非命薄却如今 梦醒人不见 泪眼映孤灯 http://dbank.vmall.com/

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AEM: Subject index  

2012-06-27 14:24:21|  分类: 实验仪器 |  标签: |举报 |字号 订阅

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A

 

amorphous carbon        非晶碳

EELS absolute quantification  用于EELS绝对定量

analytical electron microscope      分析电镜

alignment 对中

calibration for EELS or EDS  EELS或EDS定标

analytical electron microscopy      分析电子显微学

annular dark-field imaging     环状暗场像

annular detector     环状探头

apertures       光阑

2nd condenser lens (C2)       第二聚光镜光阑

effect on microanalysis  对微区分析的影响

effect on microdiffraction     对微束衍射的影响

effect on probe convergence 对探针会聚性的影响

objective  物镜光阑

selected area (SA) 选区光阑

ultra-thick       超厚光阑

Auger electrons      俄歇

electron spectroscopy    俄歇谱

 

 

B

 

background spectrum    本底(背底)谱

in EELS   EELS背底谱

subtraction in EDS 扣除EDS谱背底

subtraction in EELS       扣除EDS谱背底

X-rays    扣除X-射线背底

(请参见 bremsstrahlung 和 continuum)

 

backscattered electrons  背散射电子

detector   背散射电子探头

images    背散射电子像

 

beam       电子束

beam damage  电子束损伤

beam-sensitive specimens      电子束敏感试样

beam-specimen interactions   电子束-试样交互作用

beam spreading      电子束扩展

 

beryllium window   铍窗

 

bremsstrahlung X-rays   背底辐射X-射线

 

bright field detector       明场探头

 

bright field image in STEM    STEM 明场像

 

brightness of electron source 电子源亮度

 

C

 

calibration       校准, 定标

 

cathode ray tube     阴极射线管

cathodoluminescence     阴极荧光(辐射)

 

Cliff-Lorimer equation    Cliff-Lorimer 公式

 

condenser lens — first (C1)       第一聚光镜

condenser lens — second (C2)   第二聚光镜

condenser objective lens 聚光镜物镜

contamination 污染

use to determine thickness     用于厚度测定

continuum X-rays  连续(背底)X-射线

convergent beam diffraction        会聚束衍射

use to determine thickness     用于厚度测定

 

convergent beam diffraction patterns (CBDP)

会聚束衍射花样

convergent electron probe     会聚电子探针

crystal point group        (晶体)点群

 

D

 

dark field detector 暗场探头

 

dark field image in STEM      STEM暗场像

 

deconvolution 解谱, EDS或EELS

of EDS spectrum, of EELS spectrum

diad symmetry       二次对称

diffraction groups 衍射群

 

diffraction maxima 衍射极大值

 

 

E

 

EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) 能谱(能量色散谱)

 

EDS defector        能谱探头

EELS spectrometer 电子能量损失谱仪

 

EELS     电子能量损失谱

(electron energy loss spectrum)

zero loss peak 零损失峰

plasmon peak        等离子振荡峰

energy loss peaks   能量损失峰

ionization edge       电离损失峰(边)

background subtraction  背底扣除

 

elastic scatter  弹性散射

 

electron detectors   电子探头

collection angle      收集角

 

electron energy loss spectrometer电子能量损失谱仪

 

electron energy loss spectrometry电子能量损失谱

energy loss processes    电子能量损失过程

imaging/mapping    电子能量损失成象

ionization losses     电离损失

limitations       极限

plasmon losses       等离子振荡损失

spatial resolution     空间分辨率

 

electron-hole pairs  电子-空位对

 

electron probe 电子探针

brightness       亮度

convergence angle  会聚角

current    电流

diameter  直径

 

energy dispersive spectrometer     能谱仪

 (See X-ray energy dispersive                    58

 spectrometer)

 

energy filtered images    能量过滤图像

 

extended absorption fine structure 广延吸收精细结构

 

extraction replica    萃取复型

 

 

F

 

first order laue zone (FOLZ)  一阶劳厄区

 

fine structure in ionization edge     电离峰(边)精细结构

post-edge (EXAFS)       峰后(EXAFS)

pre-edge  峰前

 

 

forbidden reflections      禁止反射

 

full width half maximum       半高宽

 

 

G

 

g vector  g矢量

 

Gaussian 高斯

 

 

H

 

hard X-rays    硬X-射线

 

higher order laue zone (HOLZ)      高阶劳厄区

indexing  标定

lines 高阶劳厄区线

reflections      高阶劳厄区反射

rings       高阶劳厄区环

 

HOLZ lines     高阶劳厄区线

 

I

 

illumination system 照明系统

 

imaging in STEM   STEM成像

 

image enhancement       图像增强

 

Indexing  标定

HOLZ lines     高阶劳厄区线

HOLZ patterns       高阶劳厄区花样

ZOLZ patterns       零阶劳厄区花样

inelastic scatter      非弹性散射

(See also electron energy loss)

effect on EDS 对EDS的影响

effect on EELS      对EELS的影响

 

ionization 电离

ionization edges      电离损失峰(边)

post-edge fine structure 峰后精细结构

pre-edge fine structure   峰前精细结构

 

K

Kossel patterns (conditions)   Kossel花样

Kossel-M?llenstedt fringes use to determine thickness

Kossel-M?llenstedt (K-M) patterns       K-M花样

L

 

lanthanum hexaboride gun     六硼化镧电子 枪

lattice parameter determination      点阵常数确定

lattice strain    点阵应变

effect on HOLZ lines     对高阶劳厄区线的影响

lenses      透镜

auxiliary  辅助透镜

condenser       聚光镜

condenser-objective       聚光镜-物镜

intermediate    中间镜

objective  物镜

projector 投影镜

light element analysis by EDS       EDS轻元素分析

by EELS  EELS轻元素分析

limitations to X-ray analysis   X-射线分析极限

 

low loss electrons   低能量损失电子

M

 

microdiffraction     微束衍射

 

microprobe mode   微区探针模式

minimum detectable mass      最小可探测质量

 

minimum mass fraction  最小质量分数

N

 

0

 

objective aperture   物镜光阑

objective lens  物镜

P

 

peak to background ratio       峰/背比

in EDS spectrum    EDS谱

in EELS spectrum EELS谱

(See also signal to noise ratio)       参见信/噪比

phonon energy loss       声子能量损失

plasmon energy losses   等离子振荡能量损失

 

probe convergence angle       探针会聚角

Q

 

qualitative analysis  定性分析

using EDS      EDS定性分析

using EELS     EELS定性分析

quantitative analysis       定量分析

using EDS      EDS定量分析

using EELS     EELS定量分析

 

 

R

 

radial distribution function     径向分布函数

radiation damage    辐射损伤

resolution       分辨率

of EDS spectrometer    EDS谱仪分辨率

ot EELS spectrometer   EELS谱仪分辨率

of STEM image      STEM图像分辨率

Riecke microdiffraction  Riecke法微束衍射

S

 

scanning electron microscope      扫描电镜

scanning images     扫描图像

scanning transmission electron microscope

扫描透射电镜

screw axis      螺旋轴

second order laue zone (SOLZ)     二阶劳厄区

secondary electrons       二次电子

detector

sensitivity limits      灵敏度极限

in EDS    EDS

in EELS   EELS

 

space group   空间群

 

spurious effects     杂散效应

 

signal processing    信号处理

signal to noise ratio

(See also peak to background ratio) 信/噪比

spatial resolution     空间分辨率

in EDS   EDS

in EELS EELS

in microdiffraction  微束衍射

in STEM image      STEM图像

 

spurious effects     杂散效应

in EDS spectrum    EDS谱杂散效应

stationary diffraction pattern  稳定衍射花样

strain measurements     应变测量

 

symmetry (crystal) (晶体)对称

changes   对称变化

determination  对称确定

systematic absences      系统消光

T

 

terminology of CBDPs   会聚束衍射术语

 

thickness determination        厚度确定

transmitted electrons     透射电子

 

triad symmetry      三重(次)对称

 

tungsten hairpin filament       钨灯丝

U

 

ultra-thin window 超薄窗

 

ultra-thick condenser apertures     超厚聚光镜光阑

V

 

valence electron interactions  价电子交互作用

W

 

wavelength dispersive spectrometer (WDS)

波谱仪

weak beam imaging       弱束暗场成象

x

 

X-ray(s)  X-射线

Absorption      吸收

fluorescence generation        荧光的产生

images/maps 像/成份分布

ionization cross section        电离截面

microanalysis  微区分析

X-ray energy dispersive spectrometer

X-射线能谱仪

Calibration      校准, 定标

collection angle      接收角

dead layer      死层

dead time 死时间

efficiency              效率

 

X-ray peak     X-射线峰

peak fitting in EDS 能谱峰位拟合

 

X-ray spectrum      X-射线谱

background subtraction  背底扣除

deconvolution        解谱

digital filtering        数字过滤

Y

 

yttrium-aluminum garnet       钇铝石榴石

yttrium-aluminum perovskite 钇铝钙钛矿

z

 

Z-contrast      原子序数衬度

 

ZAF correction      ZAF校正

 

zero loss peak 零损失峰

 

zero order laue zone (ZOLZ)  零阶劳厄区

indexing         标定

pattern symmetry   对称性

 

zone axis 晶带轴

patterns          晶带轴花样

symmetry       对称性

 

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